X荧光光谱仪可对固体、粉末、液体、悬浮物、过滤物、大气飘尘、薄膜样品等进行定性、定量剖析,元素局限13Al-92U,含量局限ppb至,检出限到2pg。
X荧光光谱仪的优势:
1、制样简单:通常情况下是物理制样。试样经过简单的破碎、研磨成粉末压片或熔融制成;
2、分析范围广:理论上从元素Be到92号元素铀均可进行分析;
3、测量范围宽:从0.001%到均可进行分析。
X荧光光谱仪根据有手持和台式两种,所采用的都是X荧光光谱仪的原理。X荧光光谱仪由激发源和探测系统构成,根据各元素的特征X射线的强度,也可以获得各元素的含量信息,X荧光光谱仪随着分光、探测系统及X光管等的不断改善和电子计算机的应用,而得到迅速的推广和发展。可以预料,对新技术、新方法的探索,还会不断促进荧光光谱仪器的更新发展。
X荧光光谱仪的使用注意事项:
1、为了保持仪器的良好外观,需经常对仪器表面做清洁工作,用软布擦拭灰尘;
2、向样品腔内放样品时,一定要注意清洁,不可使样品尘粒掉入其中,否则会污染X光管和探测器窗口,造成测量失准和探头损坏;
3、样品盖需要用酒精棉球做好清洁工作;
4、为使仪器能长期工作正常,需定期对各项参数进行测试,并进行调整;
5、仪器只允许经培训的人员才能操作,其他人员一律不能操作;
6、使用、保存和搬动中,要特别小心,以免磕碰、损伤外表、损坏内部线路。
X荧光光谱仪优点:
1、分析速度高。测定用时与测定精密度有关,但一般都很短,2~5分钟可以测完样品中的全部待测元素;
2、X射线荧光光谱跟样品的化学结合状态无关,而且跟固体、粉末、液体及晶质、非晶质等物质的状态也基本上没有关系。(气体密封在容器内也可分析)但是在高分辨率的精密测定中却可看到有波长变化等现象。特别是在**软X射线范围内,这种效应更为显著。波长变化用于化学位的测定;
3、非破坏分析。在测定中不会引起化学状态的改变,也不会出现试样飞散现象。同一试样可反复多次测量,结果重现性好;
4、X射线荧光分析是一种物理分析方法,所以对在化学性质上属同一族的元素也能进行分析;
5、分析精密度高;
6、制样简单,固体、粉末、液体样品等都可以进行分析。
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